美国easyXAFS公司推出台式X射线吸收精细结构谱仪，采用独有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，以超高灵敏度和光源质量，实现对元素的测定、价态和配位结构分析等。此外，该设备还能够进行X射线发射谱测试(XES)，该表征本质上是超高能量分辨率的X射线荧光光谱(high-resolution XRF)。XAFS和XES可以对样品的局部电子结构实现信息互补。广泛应用于电池、催化剂、环境、放射性化学、地质、陶瓷等研究领域。

XAFS/XES 设备特点 

-  无需同步辐射光源

-  科研级别谱图效果

-  台式设计，实验室内使用

-  可外接仪器设备，控制样品条件

-  可实现多个样品或多种条件测试

-  操作便捷、维护成本低

XAFS/XES 设备参数

X射线源：

          XAFS: 1.2-kW XRD(Mo/Ag)

          XES: 100W XRF 空冷管(Pd/W)
能量范围：4.9-20.5keV

分辨率：0.5-1.5eV

样品塔：8位自动样品轮

布拉格角：55-85 deg

来源：→QUANTUM量子科学仪器贸易（北京）有限公司台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XES